高溫電阻測試儀 CRA-3

技術特點

適用于研究開發(fā)各種材料和薄膜材料電阻系數(shù)

高級應用程序控溫技術，包括溫差和測量步進等高級要求。

自由升/降溫、精確控制溫度程序，進行升溫、恒溫與降溫過程中的數(shù)據(jù)測量

自動壓力安全保護設計，確保測試過程中不會發(fā)生爆炸

試樣支架采用獨特的接觸式平衡機構，保證測量的高重現(xiàn)性

可選原片狀樣品測量系統(tǒng)

可選高級數(shù)據(jù)采集技術，避免電路板數(shù)據(jù)采集技術帶來的干擾誤差

全球甄選yi流供貨商，保證系統(tǒng)品質達到最高！

CRA系統(tǒng)硬件組成：

美國吉時利 Keithley（數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)）

德國 W.HALDENWANGER （高溫陶瓷系統(tǒng)）

英國摩根Morgan（高溫特種材料）

美國通用電氣GE（光波加熱元件）

瑞典康泰爾 Kanthal （加熱元件）

美國精量電子 MEAS（傳感器）

日本IKO （精密軸承）

日本住友Sumitomo （低溫制冷機系統(tǒng)）

測試性結構圖

圓柱形或棱形樣品垂直放置在兩電極之間，同時整個測量系統(tǒng)設置于一個加熱爐內。加熱爐加熱樣品到預定的溫度，在此溫度下， 直流電四端法測量電阻，樣品兩端通入恒定電流，測量樣品的電壓變化， 可以計算出電阻系數(shù)。

CRT技術參數(shù)